B-HAST高加快寿命偏压老化测试系统适用于IC封装安卓通用版，半导体，微电子芯片，磁性材料偏激它电子零件进行高压、高温、不鼓胀/鼓胀干冷、等加快寿命相信性考验，使用于在产物的经营阶段，用于快速清晰产物的颓势和薄弱顺次。测试其成品的密封性和老化性能。

B-HAST高加快寿命偏压老化测试系统是将被测元件甩掉于一定的环境温度中,（环境温度依据被测元件规格设定）给被测元件施加一定的偏置电压。同期已矣系统及时检测每个材料的走电流，电压，并笔据事前设定，当被测材料及时走电流超出设定时，自动堵截被测材料的电压，不错保护被测元件不被进一步点火。

B-HAST特质：

·每颗器件的Vgs镇静已矣

·及时监测每个考验器件的Id、Ig

· 已矣上、下电时序

· 全经过考验数据保存于硬盘中，可输出Excel

·考验报表和绘图全经过走电流IR变化弧线

·走电流超限保护，自动堵截测量回路

控制：

二极管，三极管，MOSFET，IGBT安卓通用版，SBD，GaN Fet, SCR以及多样封装 形态的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏考验 。